Scanning Electron Microscope (SEM)

Alat yang digunakan : EVO 10

Deskripsi :

Scanning Electron Microscope – Energi Dispersive X-ray Spectroscopy (SEM-EDX) merupakan mikroskop elektron yang berguna untuk melihat topografi permukaan suatu material dengan resolusi tinggi dan karakteristik material pada tingkat nano hingga mikro. Sedangkan EDX digunakan untuk analisis komposisi dari suatu material. Beberapa pengujian yang dapat dilakukan menggunakan SEM-EDX meliputi : Batasan Uji 1. Analisis Morfologi 2. Pengukuran Partikel 3. Analisis Kekasaran Permukaan 4. Analisis Komposisi Kimia 5. Pemetaan Komposisi Kimia

Parameter uji :

Parameter	Tarif Civitas	Tarif Instansi	Tarif Umum
Top View/Cross-Section Morphology	Rp 300.000	Rp 500.000	Rp 700.000
EDX Spectrum (Top View/Cross Section Morphology must be added)	Rp 100.000	Rp 150.000	Rp 200.000
EDX Mapping (Top View/Cross Section Morphology must be added)	Rp 100.000	Rp 150.000	Rp 200.000
Au Coating	Rp 50.000	Rp 50.000	Rp 50.000